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高真空模式：二次电子分辨率：≤1.4 nm@1 kV；≤1.0 nm@15 kV 背散射电子分辨率：≤2.0 nm@15 kV 低真空模式： 背散射电子：2 nm @ 30 kV 放大倍数范围：4×~1000000× 样品室真空：高真空模式： 9×10-3 Pa 低真空模式：7-500 Pa 水平视场宽度：分析工作距离5 mm时≥4.3 mm，30 mm时≥7.7 mm 最大样品高度：106 mm 样品台载重≥6 kg

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显微分析（扫描）：校内350元/小时，校外600元/小时 ；显微分析（能谱）：校内50元/样，校外100元/样 ；喷金镀膜：校内150元/台，校外300元/台。

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安装有In-beam SE探头、电子减速模式和背散射探测器，能实现高倍高分辨成像，低电压成像（导电差的样品适用）和成分衬度的观察。SEM、EDS

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1. 请认真如实告知样品情况，保证样品干燥、无挥发性，含有铁、钴、镍、钆元素的样品请在送样时说明，强磁样品没法测，若因隐瞒样品情况造成仪器的损坏造成的，全部损失将由送样人及其所在课题组承担。 2. 按照实际时长收取机时费，实际测试多少分钟，就收多少分钟的费用， 需做能谱、需喷金的请在预约界面选择并在实验内容中注明。 3. 根据预约先后顺序，送样预约后会有负责的老师企业微信联系具体测试时间（预约时送样时间可任意选择，测试时间等老师通知，不指定时间）！！！ 4. 因不可抗力因素（如仪器出现故障）造成的实验失败或无法按期完成，我们会第一时间通知到您而无须承担责任。

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